Verlag des Forschungszentrums Jülich
JUEL-2993
Birkner, Alexander
Aufbau einer UHV-Kombination von Rasterelektronen- und Rastertunnelmikroskopen. Lokale Untersuchung der Austrittsarbeit an definierten Oberflächen
76 S., 1995
In den Jahren 1981 und 1982 wurde von Binnig und Rohrer mit dem Rastertunnelmikroskop
ein neues Instrument fur oberflächenphysikalische Untersuchungen entwickelt, mit
dem auf leitenden und halbleitenden Oberflächen eine Abbildung mit atomarer Auflösung
möglich ist.
Die Kombination eines Rasterelektronenmikroskopes (REM) mit einem Rastertunnelmikroskop
(RTM.l bietet nun darüber hinaus die Möglichkeit, die RTM-Untersuchungen an
einem bestimmten Ort der Probe durchzuführen, an den die Tunnelspitzezuvor unter Kontrolle
des REM geführt worden ist. Eine solche Kombination wurde erstmals von Gerber et al.
im Jahr 1986 vorgestellt und daraufhin in einer Reihe von Arbeitsgruppen für verschiedene
Anwendungen mit unterschiedlichem Erfolg aufgebaut. Fur oberflächenphysikalische
Untersuchungen mit dem RTM: im Ultrahochvakuum (UHV) sind jedoch die Mehrzahl dieser
REM../RTM-Kombinationen nicht ausgelegt.
...
Neuerscheinungen
Schriften des Forschungszentrums Jülich
Ihre Ansprechperson
Heike Lexis
+49 2461 61-5367
zb-publikation@fz-juelich.de