Verlag des Forschungszentrums Jülich

JUEL-4047
Baldus, Karl Josef Oliver
Lasersinterung keramischer Dünnschichten
114 S., 2003

Elektrokeramische Materialien mit Perowskitstruktur besitzen aufgrund ihrer elektrischen Eigenschaften ein großes Anwendungspotential in der Mikroelektronik. Daher werden Technologien erforscht, mit denen die Perowskite als dünne Schichten in die Halbleiter-Bauelemente integriert werden können . Für die Integration der elektrokeramischen Dünnschichten in die Siliziumtechnologie ist die Etablierung eines Tieftemperatur-Prozesses, mit Abscheidetemperaturen von maximal 450°C von großem Nutzen, um Grenzflächenreaktionen des Substrates mit der dielektrischen Schicht und die Ausbildung von intermetallischen Phasen im Bauteil zu vermeiden. Dem entgegen steht die Mindestkristallisationstemperatur der Titanate und verwandter Materialien von mindestens 600°C. Die Ursache für das Interesse an der Lasersinterung von oxidischen Schichten, die bei tiefen Temperaturen amorph abgeschieden werden, liegt in den zusätzlichen Freiheitsgraden im Vergleich zur Wärmebehandlung in konventionellen Diffusionsöfen . Diese umfassen Variationen in der Bestrahlungszeit (fs bis s), Bestrahlungsfläche (10nm2 bis 4cm2) und Bestrahlungstemperatur (1K. .Verdampfung). Hierbei kann durch die kurzzeitige Wechselwirkung zwischen der Strahlquelle und der Schicht die thermische Belastung des Substrates minimiert werden .

In dieser Arbeit werden Dünnschichten aus Barium-Strontiumtitanat (BST) und Lanthan-Calciummanganat (LCM) amorph abgeschieden und mit Nanosekunden-UV-Laserpulsen gesintert. Ziel ist es, die festkörperphysikalischen und prozesstechnischen Fragestellungen zu untersuchen, die bei der Lasersinterung amorpher, elektrokeramischer Dünnschichten auftreten. Neben der Lasersinterung wird weiterhin untersucht, unter welchen Bedingungen mit UV-Lampen eine Sinterung der Dünnschichten erreicht werden kann.

Im Experiment werden amorphe Dünnschichten nasschemisch abgeschieden und mit Hilfe von KrF oder ArF Excimerlasern oder einem Nd:YAG Laser gesintert. Durch Anpassung der Schichtdicken gelingt es, die Schädigung der keramischen Dünnschichten durch die Laserbearbeitung zu vermeiden. Planare Teststrukturen werden hergestellt und strukturell und elektrisch charakterisiert. Die Charakterisierung der BST Dünnschichten ergibt deutlich verbesserte dielektrische Eigenschaften gegenüber den amorphen Dünnschichten. Der Realteil der Dielektrizitätszahl kann bei lOkHz um das drei bis fünffache angehoben werden, während der Imaginärteil um fast eine Größenordnung sinkt. Die in der amorphen Phase isolierenden LCM Dünnschichten werden durch die Laserkristallisation halbleitend (~Ωcm). Weiterhin können die Laserparameter mit Daten der elektrischen Charakterisierung korreliert werden. Die chemische Analyse ergibt, dass durch die Lasersinterung die Stöchiometrie der Dünnschichten nicht signifikant verändert wird. Die laser-induzierten Veränderungen verlaufen analog zu der Kristallisation der amorphen Schichten im Diffusionsofen . Parallel zur experimentellen Arbeit wird ein numerisches Simulationsmodell entwickelt, welches auf der Basis der Wärmeleitung, der Johnson-Mehl-Avrami Kristallisationskinetik und der Thermoelastizität den Lasersinterungsprozess modelliert. Die Simulationsrechnungen werden mit den Analyseergebnissen der Laserbehandelten Proben korreliert .

Electroceramic materials have a large application potential in microelectronics due to their electrical properties . Technologies are therefore being investigated for the deposition of the ceramics as thin films into semiconductor components . The establishment of a very low-temperature process is advantageous for the integration of electroceramics into silicon technology . Deposition temperatures of at maximum 450°C are necessary in order to avoid interface reactions of the substrate with the dielectric layer and the formation of intermetallic phases in the electronic component. The minimum crystallization temperature of the titanates and related materials of at least 600°C comes into conflict with this requirement. The reason for the interest in the laser sintering of oxidic thin films, which are amorphously cb-posited at low temperatures, is the additional degrees of freedom in comparison to the thermal treatment in a conventional furnace. These additional degrees of freedom comprise variations in the irradiation time (fs to s), irradiated area (10nm2 to 4cm2) and the temperatures achieved (lk. .evaporation). The laser process thus enables the thermal load an the substrate to be reduced by minimizing the integaction time between the heating source and the ceramic layer.

In the present work, thin films of barium-strontium-titanate (BST) and lanthanum-calcium-manganite (LCM) are deposited amorphously and sintered with nanosecond UV laser pulses . The aim is to investigate fundamental aspects of the solid-state physics and process technology during the laser sintering of amorphous, electroceramic thin films. The conditions under which a sintering of the thin films can be achieved with UV lamps are also investigated .

The experimental approach consists in the wet-chemical deposition of amorphous films sintered by a KrF or ArF excimer laser or a Nd :YAG laser. Adjusting the film thicknesses avoids damage to the Ceramic thin films by the laser treatment. Planar test structures are manufactured and characterized structurally and electrically . The characterization of the BST films results in clearly improved dielectric properties in contrast to the amorphous films. The real pari of the dielectric constant can be raised three- to fivefold at 10kHz, while the imaginary pari decreases by nearly an order of magnitude. The LCM films, which are electrically insulating in the amorphous phase, become semiconducting by laser crystallization (~Ωcm). Furthermore, the laser parameters can be correlated with data from the electrical characterization . The chemical analysis does not indicate any significant changes in the stoichiometry of the thin films due to the laser process. The laser-induced changes proceed in a similar manner to the crystallization of the amorphous films in the furnace. Parallel to the experimental work, a numerical simulation model is developed, which, an the basis of the thermal conduction, the Johnson-Mehl-Avrami crystallization kinetics and the thermoelasticity, models the temperature, the crystallization and the mechanical load an the thin films. The simulation calculations are correlated with the results of the analysis of the laser-treated samples.

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Letzte Änderung: 07.06.2022