Verlag des Forschungszentrums Jülich
JUEL-3715
Deppe, Joachim
Ortsaufgelöste Photostrommessungen (OBIC) am Halbleiter/Elektrolyt-Kontakt im Sub-Mikrometerbereich
218 S., 1999
Beim Eintauchen eines Halbleiters in einen Elektrolyten entsteht ein
gleichrichtender elektrischer Kontakt. Dieser eignet sich zur Umwandlung von
Sonnenlicht in elektrische oder chemische Energie, dient hier aber auch als
Modellsystem für elektronische Festkörperkontakte. Mit einem neu aufgebauten
photoelektrochemischen Raster Laser Mikroskop (SLM) mit einer sehr hohen
Ortsauflösung im Sub-Mikrometerbereich wurden räumliche Strukturen an solchen
Halbleiter/Elektrolyt-Kontakten mittels Photostrom-Messungen untersucht.
Diese
Messungen geben Aufschluss über das laterale Photostromdichte- und
Quantenausbeuteprofil einer Messprobe. Daraus lassen sich Rückschlüsse auf
die
laterale Potentialverteilung an der Kontaktfläche ziehen. Es wurde speziell
untersucht, welche photoelektrochemische Prozesse die Ortsauflösung
beeinflussen. Dies sind vor allem eine lichtinduzierte Verschiebung des
Flachbandpotentials und eine laterale Minoritätsladungsträger-Diffusion und
-Drift. Untersucht wurden polykristalline sowie teilkorrodierte, defektreiche
bzw. goldstrukturierte einkristalline TiO2-Proben.
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