Verlag des Forschungszentrums Jülich
JUEL-3064
Lüning, Jan
Soft X-Ray Spectroscopy of Porous Silicon and Potassium Halides
83 S., 1995
Zusammenfassung
Das Studium der Wechselwirkung von elektromagnetischer Strahlung und Materie ist
eine der prinzipiellen Methodiken der Experimentalphysik. In der Festkörperphysik ist
die Beobachtung der elektronischen Struktur, die fast alle Eigenschaften der kondensierten
Materie bestimmt, eines der Hauptanwendugsgebiete. Innerhalb dieser Diplomarbeit
wurde die elektronische Struktur von porösem Silizium (pSi) und Kaliumhalogeniden
(KH) mit "Weich-Röntgen-Spektroskopie"(SXS) untersucht: im Absorptionsprozeß
werden Rumpfelektronen in das Leitungsband (CB) angeregt, und im Emissionsprozeß
der Zerfall von Valenzbandelektronen (VB) in das Rumpfloch spektroskopiert.
Die erreichbare Auflösung hängt von der Lebensdauerverbreiterung des Rumpfloches
ab, daher werden in SXS Rumpfzustande mit Bindungsenergien unterhalb von 1000 eV
genutzt. Somit erstreckt sich der in SXSgenutzte Strahlungsbereich grob von 10 eV
(der niedrigsten Bindungsenergie von vnochatomaren" Rumpfzustiinden)bis 1000 eV.
Zur Interpretation von SXS Spektren gibt es prinzipiell zwei verschiedene Ausgangspunkte,
die mit dem Grad der Lokalisierung der VB Elektronen verknüpft sind. In
Systemen mit breiten Bandera, d.h., wo die Wechselwirkungen der einzelnen Elektronen
vernachlässigt werden kann, bestimmt die lokale partielle Zustandsdichte (LPDOS) die
SXS Spektren, die in erster Näherung unabhänglg von der Anregungsenergie sind. Zu
diesem Extrem gehören die Untersuchungen der Bandstruktur von pSi. ...
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